数优|慕尼黑上海光博会VisionChina 2019圆满落幕，我们明年再会！

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     3月20日-3月22日，历时三天，众星云集的慕尼黑上海光博会VisionChina2019在上周五于上海新国际博览中心圆满收官，数优人工智能作为工业领域人工智能缺陷检测的领导者，带着业界的认可、客户的赞誉满载而归。

     1展位号：W5.5216

     视觉系统设计 媒体采访中

     本次展会数优人工智能展台位于W5馆5216，数优人工智能以“专注深度学习、深耕工业检测”为主题，带来了全球领先的深度学习缺陷检测技术应用和全新的手机外观全检的“人工智能”产品，和观众一起探讨了工业检测智能制造的无限可能。

     2、机器视觉技术及工业应用研讨会

中国区总经理韩旭先生演讲现场

     “人工智能”这个词已经飞入寻常百姓家，人工智能缺陷检测的公司已在中国遍地开花，此次演讲数优的韩总解读了数优在缺陷检测领域为何是领导者的身份，带来了数优最新的核心技术分享以及在智能制造产线上的实际案例，现场座无虚席众多观众莅临听讲。

     3、SuaKIT新技术

     数优最新升级的人工智能算法软件SuaKIT2.2.4，重新定义了AI缺陷检测。新技术的研发使得缺陷检测更精准、更高效，这次技术升级带来了以下技术优势：

     1、能够轻松应对频繁更换检测产品的情况，无需重新建立神经网络；

     2、单一图片数据也可以轻松建立神经网络；

     3、可视化调试，打开了“黑匣子”，提高检测的准确度；

     4、独有的自动标记功能，极大地降低了人工标记的时间；

     5、新旧产品更替可以平稳过度，零对接时间；

     6、利用GPU及算法优化提高检测速度，可以实现高速产线的实时检测（最高速度超过10m/s）

     继续训练

     通过继续训练缩短建网训练时间，减少训练图片数量；利用之前训练的神经网络，客户可以最小化统一行业中新产品的训练时间和训练图像的数量。

     边界数据

     向用户展示介于正常和缺陷之间的边界数据，抽取出会影响到模型性能的图片，经过分析之后可以非常容易地提高模型的性能。

     图像对比

     重点学习两幅图片之间的差距，即使改变了光学条件，也能尽量减少费用并检查出缺陷。

     多图像分析

     同一产品在不同的光学条件下拍摄时，通过分析图片之间的相互关系以提高检测能力，如把图片打包检测，处理时间可以大大缩短。

     可视化纠错

     可以将深度学习算法分析并分类的过程可视化。此功能可以检测软件是否在按照使用者的意图进行训练。

     为期三天的展会，我们与业界资深人员进行了热烈而深入的交流，寻求共赢合作，展会后也欢迎大家带着检测样品或者是图片来咨询我们。2020年3月18日至20日，期待与您再次相会上海新国际展览中心！